NIM-100倒置金相显微镜
MD4100金相显微镜采用无限远光学系统，提供了卓越的光学性能。可供观察和鉴别各种金属和合金的组织机构，其舒适稳重的镜体机构、高效方便的载物台设计、轻松快捷的操作方式,适合学校、工矿企业实验室长时间的轻松操作。
XJG-05双目金相显微镜
目镜:8× 18:10× 16:10×十字分划目镜:12 5× 14:16× 12,平场消色差物镜:4× 0 10 WD 52 3mm:10× 0 20 WD 17 3mm:25× 0 40 WD 0 90mm:40× 0 65 WD 0 40mm:63× 0 85 WD 0 20mm:100× 1 25 WD 0 30mm,暗场套筒:10×物镜暗场套筒 :25×物镜暗场套筒 ,观察头 :平拉式双目观察头 ,柯勒照明 :12V 50W白炽灯,中心、亮度连续可调 :氙灯，中心、亮度。
BMM-300系列正置金相显微镜
BMM-300系列正置金相显微镜适用于对不透明物体进行显微观察。本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，操作方便等特点，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。
TMG-500正置透反射硅片检测显微镜
TMG-500透反射（双色）正置金相显微镜配置透反射照明系统,长距平场消色差物镜（无盖玻片）、大视野目镜和内置偏光观 察装置,光学系统成像清晰,视野广阔,适用于工矿企业,高等院校及科研等机构作材料内部组织结构观察。
BA310Met正置金相显微镜
BA310Met是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检查、分析及研究的必备仪器，适用于教学、科研、工业等领域。采用同轴垂直照明系统，很好的消除了杂散光，从而大大提高成像的对比度（衬度）和清晰度。
JX-1000L正置金相显微镜
JX-1000L正置金相显微镜适合电子、冶金、化工和工业行业用于观察透明、半透明或不透明的物资，如金属 陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。
4XA高档双目倒置金相显微镜
4XA型双目倒置金相显微镜广泛应用在学校、工矿企业实验室，以鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，对热处理后的材料作一般金相组织的研究工作。显微镜成像清晰，视野宽广，整体设计符合人机功能，适合长时间操作。
CMY-410/CMM-70金属、合金材料、非金属物质组织观察显微镜
CMM-70系列大平台金相显微镜适用于对不透明物体的显微观察。大平台金相显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时配有偏光装置。大平台金相显微镜除了一般金相显微镜作用外，大平台金相显微镜还适宜于大物体表面上的特定范围内微小目标的观察研究和分析。
CDM-201研究型正置金相显微镜
无限远透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置大视野目镜与偏光观察装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.
VM2000/4XCE铸造冶炼、热处理研究显微镜
4XCE电脑型倒置金相显微镜主要用于鉴别和分析金属内部结构组织，4XCE电脑型倒置金相显微镜为研究金属学金相的重要仪器。4XCE电脑型倒置金相显微镜配置落射照明 、长距平场消色差物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时还配有内置偏光观察装置。4XCE倒置金相显微镜可用于，铸造、冶炼、热处理的研究，原材料的检验或材料处理后的分析等。本仪器系大专院校进行教学，实验室，工厂质量鉴定的理想仪器。
4XBD数码型双目倒置金相显微镜
4XBD数码型双目倒置金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、光电转换技术、尖端的数码成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在数码相机上很方便地适时观察金相图像，并以数码照片记录下来,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以冲洗或打印出高像素金相照片。该数码显微镜成像清晰，视野宽广，操作方便,数码成像分辨率高，特别适合于从事科研或者用于发表论文。
DMM-100C电脑型三目正置金相显微镜,电子、冶金、化工行业
DMM-100C电脑型三目正置金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机显示器上很方便地适时观察金相图像，并可随时捕捉记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。
CMY-500BD明暗场金相显微镜(半导体工业硅片制造业样品观察)
CMY-500BD研究型明暗场金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件、金属、陶瓷部件、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明形式，在反射光照明下可进行明暗场观察（选购DIC装置）、偏光观察。在透射光下作明场观察。
AWL系列显微镜晶圆检查系统
兼具稳定性和安全性，能够安全可靠的传送晶圆，适合于前道到后道工程的晶圆检查。拥有AWL046、AWL068两种机型，分别可适用于4/6英寸晶圆检测，6/8英寸晶圆检测，适应范围广、搭配灵活。可自由设置的检查模式，充分符合人机工程学设计，操作舒适、简便。
MX4RT新型FPD专业检查显微镜
MX4RT微分干涉显微镜采用无限远色差校正光学系统，配备透反射式照明系统可用于观察不透明产品的表面结构特征，具备明场观察，偏光观察以及DIC观察三种观察模式，可以观察FOGCCOG爆破粒子状态结构。
CMY-910科研级金相组织分析显微镜
科研级明暗场金相显微镜CMY-910采用NIS45无限远光学系统，配置了落射与透射照明系统、无限远半复消色差物镜、内置偏光观察装置除可做明暗场观察外也可实现偏光观察，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察，尤其适合观察金相组织，半导体材料晶圆以及各种材料表面镀层厚度的检测，同时可做矿物的矿相分析。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CMY-290DM透反射数码金相显微镜
透反射数码金相显微镜CMY-290DM由CMY-290和HDP5612显示屏相机组成。CMY-290配置了透射、落射照明装置，既可以观察金属材料的金相组织结构，也可以观察半透明，甚至不透明的生物标本。采用了无限远长工作距平场消色差金相物镜和大视野目镜，具有成像清晰，视野广阔，操作方便等特点。 HDP5612显示屏相机图像色彩还原接近原色，提供鼠标操作，厂家出厂配套无线鼠标，保证产品使用灵活方便； 11.6寸1080P液晶屏显示内置测量软件，可拍照录像测量预览图片，支持U盘存储，内置工业相机全部需要的功能。CMY-290DM尤其适合观察金相试样，电子芯片等样品，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
科研级数码三目倒置金相显微镜VM3200I
VM3200I科研级三目倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，仪器带有偏光装置，并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金属、岩矿内部结构组织的鉴定和分析，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。总放大倍数：50-1000X