半导体 价带顶和导带底的具体数值怎么确定或查到这些数值?

2016-10-08技术资料

半导体 价带顶和导带底的具体数值怎么确定或查到这些数值?

本人看到的都是半导体价带顶和导带底的相对大小(以半导体能带分布图的形式出现),有没有确定具体的数值大小啊。或者在哪里能够查到?

Nanoscale, 2011, 3, 446–489
这篇综述里总结了一些

个人观点:
通过测量XPS、UPS价带谱可以得到价带顶位置,以及费米能级位置,由禁带宽度可以算出导带底位置
或者用电化学肖特基图谱可以得出平能带电位,计算出导带底位置

半导体材料电子结构稍微有些改变,数据都不同,如某薄膜禁带宽度理论上是3.2eV,但是实际测量中很可能就是3.0、3.1,你可以去查查相关文献,导带底位置的确定有很多电化学之类的文献都应该会有,祝好!
 

个人观点,半导体材料电子结构稍微有些改变,数据都不同,如某薄膜禁带宽度理论上是3.2eV,但是实际测量中很可能就是3.0、3.1,你可以去查查相关文献,导带底位置的确定有很多电化学之类的文献都应该会有,祝好!

谢谢了,就是这样的数据,请问这些数据是从哪里查到的。

 
你需要哪种薄膜的禁带宽度,就去搜哪种薄膜的文献,相关文献肯定特别多,多动动手,祝好!
上官天夜

你好 请问如何由XPS或者UPS得到费米能级的位置啊,老板让找费米能级的测定方法,苦苦搜索,至今无果,望赐教(最好能有文献参照学习),谢谢···
价带谱以0为费米能级,由电化学工作站的肖特基(M-S)曲线可以计算出平能带电位,平能带可以计算出价带顶(这两值基本相等,差0.1-0.2eV左右)的位置,由测量出的禁带宽度可以计算出导带底位置,这样不是所有的相当位置都出来了。
至于具体文献毕业了不记得了。
 

非常感谢你的指点,你所说的平带电位是否可以直接认为是价带顶呢,还是需要由公式来推算?谢谢你了。
 
貌似这个图给的是禁带宽度哦!
 

数据里全是氧化物和硫化物半导体的数据,那请问其他半导体的数据在哪里可以找到呢,比如氮化物,GaAs等?
 

查文献吧,测得了带隙值,其价带顶和导带底的数值是可以计算的,有公式