金相显微镜

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CDM-583三目正置金相显微镜

CDM-583三目正置金相显微镜

CDM-583正置金相显微镜适用于对透明、不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明、透射照明系统、平场消色差物镜,图像清晰,衬度好。同时配有偏光装置,是金属学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器,适用于学校、科研、工厂等部门。

CDM-818高眼点大视野金相显微镜

CDM-818高眼点大视野金相显微镜

五孔转换器,带可变光阑和中心可调视场光阑反射式柯拉照明器。12V50W卤素灯中心可调,宽电压100V-240V自适应,亮度连续可调。反射式柯拉照明系统(12V50W卤素灯),亮度可调.无限远长工作距平场消色差金相物镜

CDM-816高档金相显微镜

CDM-816高档金相显微镜

CDM-816高档金相显微镜,反射式机架,低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm,带平台位置上下调节机构。Zui大样品高度50mm,微调精度0.002mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。反(落)射照明器,柯拉照明系统,带视场光阑与孔径光阑,中心可调。带斜照明装置。

XJ-56C三目正置金相显微镜

XJ-56C三目正置金相显微镜

XJ-56C三目正置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,可选配暗场装置和微分干涉装置,轻易实现暗场观察、DIC微分干涉观察等功能。导柱升降装置,可以快速调整工作台与物镜之间的距离,适用于不同厚度工件表面的金相组织结构与工件表面质量进行显微观察,主要用于精密零件,集成电路,包装材料等产品检测。

XJ-52BD科研级暗场金相显微镜

XJ-52BD科研级暗场金相显微镜

XJ-52BD科研级暗场金相显微镜配有大范围移动的载物台、采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,带有偏光装置、暗场装置,可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪

XJ-51DIC科研级微分干涉显微镜

XJ-51DIC科研级微分干涉显微镜

XJ-51DIC科研级微分干涉金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,带有偏光装置、微分干涉装置,可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。

XJ-55DIC三目微分干涉金相显微镜

XJ-55DIC三目微分干涉金相显微镜

XJ-55DIC三目微分干涉金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,带有偏光装置、微分干涉装置,可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。

XJ-52DIC科研级微分干涉显微镜

XJ-52DIC科研级微分干涉显微镜

XJ-52DIC科研级微分干涉金相显微镜配有大范围移动的载物台、采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,带有偏光装置、微分干涉装置,可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。

CDM-815C卤素照明金相显微镜

CDM-815C卤素照明金相显微镜

使用专业的金相物镜及平场目镜,成像质量好,分辨率高,观察舒适。提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构。选配相应的摄影摄像附件,可对观察图像进行采集和保存,配电脑和专业金相分析软件图像进行金相图像分析。操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。

CDM-206倒置金相显微镜

CDM-206倒置金相显微镜

CDM-206本仪器可广泛用于机械工业的金相组织观察分析,地矿部门对矿物的分析研究,电子工业中的晶体、集成电路、微电子等方面的观察测量,是工厂、高等院校、科研机构及电子工业的首选。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰,衬度更好,简洁而新颖的外观更符合现代潮流,人性化的设计,简便的操作使您从繁重的工作压力中解放出来。

CDM-360正置反射金相显微镜

CDM-360正置反射金相显微镜

电脑型金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机(数码相机)通过光电转换有机的结合在一起,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机(数码相机)显示屏幕上观察实时动态图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

CDM-970正置研究型金相显微镜

CDM-970正置研究型金相显微镜

 CDM-970研究型正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器,特别适合铜业、铝业、钢铁行业观察金属组织。也适用于学校、科研、工厂等部门使用。 

CDM-990大平台高档金相显微镜

CDM-990大平台高档金相显微镜

 CDM-990研究型正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器,特别适合铜业、铝业、钢铁行业观察金属组织。也适用于学校、科研、工厂等部门使用。  

CDM-33无穷远倒置金相显微镜

CDM-33无穷远倒置金相显微镜

本仪器可广泛用于机械工业的金相组织观察分析,地矿部门对矿物的分析研究,电子等方面的观察测量,是工厂、高等院校、科研机构及电子工业的首先。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰,衬度更好,简洁而新颖的外观更符合现代潮流,人性化的设计,简便的操作使您从繁重的工作压力中解放出来。

CDM-802高档研究型倒置金相显微镜

CDM-802高档研究型倒置金相显微镜

CDM-802倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与模块化的功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察,是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。

CDM-201研究型正置金相显微镜

CDM-201研究型正置金相显微镜

无限远透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器,配置大视野目镜与偏光观察装置,透反射照明采用“柯勒”照明系统,视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.

JX-3200BD正置金相显微镜

JX-3200BD正置金相显微镜

JX-3200BD正置金相显微镜适用于对不透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察,是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。

JX2200BD正置明暗视场透反射金相显微镜

JX2200BD正置明暗视场透反射金相显微镜

JX2200BD正置明暗视场透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器,配置明/暗场物镜、大视野目镜与偏光观察装置,透反射照明采用“柯勒”照明系统,视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器。

AE2000MET倒置金相显微镜

AE2000MET倒置金相显微镜

AE2000MET倒置金相显微镜,采用物镜倒置式结构,适用于教学,科研和工业领域。是做金属鉴定及矿物质学,精密工程等学科的重要科研工具。该系列金相显微镜具有光学成像效果质量好,金相显微镜性价比高等特点。成效效果可直逼进口系列金相显微镜。采用长寿命光源设计,无需频繁的更换显微镜照明光源,内置五孔物镜转盘,采用内定位设计,避免了误操作和提高了操作舒适度。总放大倍率Zui大可达到500倍。

BMM-100 DIC型微分干涉数码金相显微镜

BMM-100 DIC型微分干涉数码金相显微镜

BMM-100 DIC型微分干涉数码金相显微镜是一款性价比非常高的检测用光学仪器。采用优良的无限远光学成像系统,内置LED高亮度照明器,引入了微分干涉显微观察功能。双目摄影观察头,体现了目视观察的真实还原,以及数码摄影与显微成像的技术融合,观察到的干涉图像具有更强的立体感,适合于非透明材质的表面形态观察,如液晶屏导电粒子的显微形态。是精密制造领域内品质检测、结构研究的理想仪器。

BMM-300系列正置金相显微镜

BMM-300系列正置金相显微镜

BMM-300系列正置金相显微镜适用于对不透明物体进行显微观察。本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,操作方便等特点,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。

BMM-520透反射正置金相显微镜

BMM-520透反射正置金相显微镜

BMM-520透反射正置金相显微镜配置透反射照明系统,长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,光学系统成像清晰,视野广阔,适用于工矿企业,高等院校及科研等机构作材料内部组织结构观察。

XP-650无限远透反射偏光显微镜

XP-650无限远透反射偏光显微镜

XP-650无限远透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。

XSP-11C正置金相显微镜

XSP-11C正置金相显微镜

XSP-11C正置金相显微镜,是将精密的光学显微镜技术、光电转换技术与数码相机(计算机)技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。不仅可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像,并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

金相显微镜主要用于鉴定和分析金属内部结构组织,是工业部门鉴定产品质量的关键设备;该仪器配用摄像装置,可摄取金相图谱,并对图谱进行测量分析,对图象进行编辑、输出、存储、管理等功能;是集光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术于一身的光学仪器。