LW300LMDT正置明暗视场透反射金相显微镜
LW300LMDT正置明暗视场透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置明/暗场物镜、大视野目镜与偏光观察装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.
MM-XH500现场金相显微镜
XH-500型现场金相显微镜是适用于现场多种大型工件的金相检查、失效分析的显微镜，它不用切割取样，直接在工件上打磨、抛光，从而保证工件的完整性。
BMM-580DIC微分干涉相衬显微镜
BMM-580DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
XP-650无限远透反射偏光显微镜
XP-650无限远透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。
XJ-55DIC三目微分干涉金相显微镜
XJ-55DIC三目微分干涉金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。
CDM-813 三目反射型金相显微镜
反射金相显微镜适宜于微小和不方便倒置的试样，及需要寻找特定范围目标试样的观察研究和分析。透反射金相显微镜配有落射照明器（同轴反射）和透射照明器，不仅可以鉴别和分析各种金属、合金材料、非金属物质的组织结构及集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等的一些表面状况，透反射金相显微镜还可以广泛地应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质和透明的物质。如金属、陶瓷、集成电路、电子芯片、印刷电路板、液晶板、薄膜、粉末、碳粉、线材、纤维、镀涂层以及其它非金属材料等。
4XC倒置金相显微镜
4XC系列倒置金相显微镜主要用于鉴别和分析金属内部结构组织，倒置金相显微镜是金属学研究金相的重要仪器。铸造。冶炼、热处理的质量研究，原材料的检验或材料处理后的分析等均可使用倒置金相显微镜。
CDM-20中档型倒置金相显微镜
CDM-20系列倒置金相显微镜主要用于鉴别和分析金属内部结构组织，倒置金相显微镜是金属学研究金相的重要仪器。铸造。冶炼、热处理的质量研究，原材料的检验或材料处理后的分析等均可使用倒置金相显微镜。
XTL-302BD正置明暗场金相显微镜
XTL-302/XTL-302BD正置金相显微镜适用于对不透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、暗场观察等功能，紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
Leica DM12000M金相显微镜
徕卡DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查12英寸(300毫米)硅片的产能。Zui新的 LED 照明技术一体化设计并整合在显微镜上. 低热辐射和机身内一体化技术确保了Zui理想的机身外空气流动状态。低能耗的节电设计大大延长了使用寿命,符合绿色环保的理念。
MM-158正置金相显微镜
MM-158 作为高级金相显微镜具有其超强性能，主要针对半导体制造业，电子产业，冶金及科研行业而开发的。本仪器采用了透射和反射两种照明方式，在反射照明下可实现明暗场观察及DIC微分干涉观察，偏光观察。在透射光下作明场观察。采用了UIS高分辨率,长工作距离无限远光路校正成像技术。光源采用非球面Kohler照明，为深色物体观察提供了亮度保证。25mm超大的视野目镜提供了更清晰的图像质量。
JX-2200L透反射显微镜
JX-2200L透反射显微镜适用于对不透明物体或透明物体的显微观察。本仪器配置落射与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。
XJY-3工业大平台金相显微镜
超大移动范围的载物台设计，移动范围：1 0英寸(250mm)X1 0英寸(250mm)。可供IT行业大面积集成电路、晶片的观察和检测，镜体机构舒适稳重、操作方式轻松快捷。无限远光学系统，长工作距离高倍物镜(40X物镜工作距离3．7mm)，提供了卓越的光学性能。快速手推功能，可实现大距离快速到位。粗微调低位前置操作，适合长时间轻松工作不疲劳。
4XC-V 图像金相显微镜
结构 :倒置式 三目镜筒 倾角30° 瞳距和屈光度可调 4物镜转换器,总放大倍数:100 X ～ 1000 X ,平场消色差物镜:10X，20X，40X，100X, 平场目镜:10X, 双层机械载物台:200×152㎜ 移动范围15×15㎜,调焦机构 :同轴粗微动 限位保护 升降范围30㎜ 微调0 002㎜, 照明系统:亮度可调 卤素灯20W 6V带滤色片, 电源:220VAC（50Hz） 110VAC（60Hz）
BM-4XA I单目金相显微镜
目镜：消色差物镜:放大倍数：10X:数值孔径N A(毫米)：0 25:系统：干油:焦距(毫米)：17 13:工作距离(毫米)：7 316,目镜：平场消色差金相物镜:放大倍数：40X:数值孔径N A(毫米)：0 65:系统：干油:焦距(毫米)：4 45:工作距离(毫米)：0 66,目镜：消色差物镜:放大倍数：100X:数值孔径N A(毫米)：1 25:系统：干油:焦距(毫米)：2 906:工作距离(毫米)：0 198,物镜:放大倍数：10X；12 5X:视场直径(毫米)：18；15,机械筒长:160毫米。
LW400LMDT正置明暗场金相显微镜
LW400LMDT正置明暗场金相显微镜适用于对不透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、暗场观察等功能，紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
GX400工业金相显微镜
GX400工业金相显微镜采用无限远光学系统工业金相显微镜、符合人机工程学,模块化功能设计、无限远长工作距物镜,五物镜转换、内切换偏光装置,滤色片组推进器、配置移动载物台,便于目标定位、可选暗视野与微分干涉相衬系列
BMM-520透反射正置金相显微镜
BMM-520透反射正置金相显微镜配置透反射照明系统,长距平场消色差物镜（无盖玻片）、大视野目镜和内置偏光观察装置,光学系统成像清晰,视野广阔,适用于工矿企业,高等院校及科研等机构作材料内部组织结构观察。
JX2200BD正置明暗视场透反射金相显微镜
JX2200BD正置明暗视场透反射金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置明/暗场物镜、大视野目镜与偏光观察装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器。
XJ-52DIC科研级微分干涉显微镜
XJ-52DIC科研级微分干涉金相显微镜配有大范围移动的载物台、采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。
MDS一体化镜体设计倒置金相显微镜
一体化镜体设计，提供超群的高稳定性能；低位前置操作，追求完美人机工程学要求；低位操作的机械移动平台，快速搜寻图像；国内首创内置一体化数码金相显微镜设计；防潮、防尘、防拆卸设计，系统更加稳定；专业的平场金相物镜，提供良好的解析度和清晰地图像。
CDM-999C大视野金相显微镜
内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置，推拉式检偏器与起偏器，粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:0.7μm，机械式载物台，外形尺寸：280mmX270mm，移动范围：横向（X）204mm，纵向（Y）204mm。高清工业级摄像器300万像素500万像素1000万像素USB信号输出。
LWD200-4XC三目倒置金相显微镜
倒置金相显微镜，适用于厂矿企业、高等院校及科研等机构作材料的表面组织结构观察和机械状态检测之用。也是金相、岩相、矿相、晶体等方面的实验与分析的首选。
LWM300LJT工业检测金相显微镜
工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、暗场观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台可有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动，机构升降平稳。产品适用于精密零件，集成电路，包装材料等产品检测。