CDM-813 三目反射型金相显微镜
反射金相显微镜适宜于微小和不方便倒置的试样，及需要寻找特定范围目标试样的观察研究和分析。透反射金相显微镜配有落射照明器（同轴反射）和透射照明器，不仅可以鉴别和分析各种金属、合金材料、非金属物质的组织结构及集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等的一些表面状况，透反射金相显微镜还可以广泛地应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质和透明的物质。如金属、陶瓷、集成电路、电子芯片、印刷电路板、液晶板、薄膜、粉末、碳粉、线材、纤维、镀涂层以及其它非金属材料等。
TMG-600明暗场正置透反射硅片检测金相显微镜
TMG-600明暗场硅片检测显微镜是适用于对太阳能电池硅片的显微观察。本仪器配有大移动范围的载物台、落射照明器、长工作距离的平场消色差物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时配有偏光装置，及其高像素的数码摄像头. 本仪器配有暗场物镜,使观察硅片时图像更加清晰,是检测太阳能电池硅片的”金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析的理想仪器.
TMG-300透反射式硅片检测金相显微镜
TMG-300透反射式硅片检测显微镜主要用于太阳能电池硅片的观察。它能产生高清晰的图像,立体感较强，成像较清晰和宽阔，又具有长工作距离，并具有较大的视场范围和相应的放大倍数, 配有高像素的数码摄像头,可以很清楚地看到硅片的”金字塔”的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析服务.是太阳能电池硅片的普遍专用显微镜。
TPV-708型反射矿相检测金相显微镜
TPV-708型反射矿相显微镜适合地质勘查(区域地质勘查、海洋地质勘查、水文地质勘查、工程地质勘查、环境地质勘查、固体矿产勘查、地球化学勘查)、电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察半透明或不透明的物资，如矿物、金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，适合于地质勘探、学校、科研部门作观察分析用。
CDM-583三目正置金相显微镜
CDM-583正置金相显微镜适用于对透明、不透明物体的显微观察。本仪器配有落射照明、透射照明系统、平场消色差物镜，图像清晰，衬度好。同时配有偏光装置，是金属学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器，适用于学校、科研、工厂等部门。
CDM-818高眼点大视野金相显微镜
五孔转换器，带可变光阑和中心可调视场光阑反射式柯拉照明器。12V50W卤素灯中心可调，宽电压100V-240V自适应，亮度连续可调。反射式柯拉照明系统（12V50W卤素灯），亮度可调.无限远长工作距平场消色差金相物镜
CDM-816高档金相显微镜
CDM-816高档金相显微镜,反射式机架，低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm，带平台位置上下调节机构。Zui大样品高度50mm，微调精度0.002mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。反（落）射照明器，柯拉照明系统，带视场光阑与孔径光阑，中心可调。带斜照明装置。
XJ-56C三目正置金相显微镜
XJ-56C三目正置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，可选配暗场装置和微分干涉装置，轻易实现暗场观察、DIC微分干涉观察等功能。导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件表面的金相组织结构与工件表面质量进行显微观察，主要用于精密零件，集成电路，包装材料等产品检测。
XJ-52BD科研级暗场金相显微镜
XJ-52BD科研级暗场金相显微镜配有大范围移动的载物台、采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、暗场装置，可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪
XJ-51DIC科研级微分干涉显微镜
XJ-51DIC科研级微分干涉金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。
XJ-55DIC三目微分干涉金相显微镜
XJ-55DIC三目微分干涉金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。
XJ-52DIC科研级微分干涉显微镜
XJ-52DIC科研级微分干涉金相显微镜配有大范围移动的载物台、采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。