使用金相显微镜观察导电粒子
使用金相显微镜系列配合起偏,检偏及DIC微分干涉,可以很好的观察屏的导电粒子,确认导电粒子个数是否符合要求.
首先,需要观察导电粒子必须要有配有DIC及起偏检偏器的金相显微镜.对于观察导电粒子来说一般选用的镜头是要求为不chao过20倍为Zui好,chao过后会由于景深的问题导致观察效果模糊,无法观察到Zui好的效果.
准备好金相显微镜及必要的屏后就可以开始观察导电粒子了.首先把DIC及起偏检偏拉出,然后把屏放置在载物台上,调整好焦距,通过载物台移动后找到观察位置.现在插入起偏及检偏器,通过目镜观察屏上位置,再调节检偏器,直到光线Zui黑时停止调节检偏器.Zui后插入DIC,调节DIC进行偏光直到看到导电粒子Zui清晰时就可以停止了.
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