LW400LJT明暗场芯片检查金相显微镜
LW400LJT明暗场芯片检查金相显微镜

LW400LJT明暗场芯片检查金相显微镜

杨经理
张经理
(微信同号)
品牌
MicroDemo
产品编号
1479
产品型号
LW400LJT明暗场芯片检查金相显微镜
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用途:

本仪器适用于对不透明物体的显微观察及8寸芯片观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察,是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。

特点:

1.配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片),视场大而清晰

2.配置大移动范围的载物台,移动范围:8"×8"(204mm×204mm)

3.粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:0.8μm

4.6V 30W卤素灯,亮度可调

5.三目镜筒,可自由切换正常观察/偏光观察,明视场/暗视场观察. 可进行100%透光摄影

主要技术参数:

1.镜筒:三目观察筒,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换), 双目瞳距调节范围:53~75mm

2.目镜:大视野10X/22mm

3.无限远长工作距离平场消色差物镜(无盖玻片)

      PL 5X/ 0.12工作距离26.1mm          PL 10X/ 0.25工作距离20.2 mm

      PL 20X/ 0.40工作距离8.80mm          PL 50X/ 0.70工作距3.685mm

      PL 80X/ 0.80工作距离1.25mm

4.落射照明系统:6V20W卤素灯,亮度可调,内置视场光阑、孔径光阑、滤色片(蓝、黄、绿、磨砂)转换装置,推拉式检偏器与起偏器

5.调焦机构:粗微动同轴调焦, 微动格值0.7μm,带锁紧和限位装置

6.转换器:五孔(内向式滚珠内定位)

7.载物台:尺寸:280mm*270mm,移动范围:(X)204mm*(Y)204mm

8.透射照明系统: 阿贝聚光镜  NA.1.25  可上下升降

9.滤色片:蓝滤色片和磨砂玻璃

10、偏光装置: 起偏振器,可360度旋转,可推拉切换检偏振器,可推拉切换

选购件:

1.无限远长工作距离平场消色差物镜(无盖玻片)

    PL60X /0.75工作距离1.9 mm       PL100X(干式)/ 0.85工作距离0.35 mm

2.数码摄像系统:500万或1000万数码摄像头;610万工业CCD。

3.测量软件或者金相分析软件