LW200-4JT高清晰正置金相显微镜
LW200-4JT高清晰正置金相显微镜

LW200-4JT高清晰正置金相显微镜

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品牌
MicroDemo
产品编号
1272
产品型号
LW200-4JT高清晰正置金相显微镜
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由于该产品已进行多次功能升级和更新迭代,我们不保证LW200-4JT高清晰正置金相显微镜提供的图片和各项参数等信息均为最新,我们建议您点击此处联系我们的在线工程师为您服务,同时我们也欢迎您电话咨询:!

用途:

LW200-4JT适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体,金属陶瓷、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、芯片及新材料等方面的检验与分析。采用进口光学镜片,独有的100X干镜可媲美国外同类产品,为国内市场配置最高端的产品

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主要技术参数:

1.三目镜筒:倾斜45 °可旋转360 ° 瞳距55mm-75mm,视度±5° 辅助倍数1.25X

2.高眼点目镜:PLAN10X/20mm

3.平场物镜: 4X、10X、40X(S)、100X(S,oil)

4.总放大倍数:50X-1250X

5.双层载物台:尺寸160mm*140mm,

移动范围 75*50mm

6.聚焦镜:可调式阿贝聚焦镜NA1.25

孔镜可变光栏和视场光阑  滤色片座

7.调 焦 :同轴粗微动调焦 升降范围25mm

微动格值0.002mm

8. 光 源:柯勒照明,正交偏振装置,滤色片(绿、黄、磨砂),反射光可调卤素灯12V50W,

透射光可调卤素灯12V20W