景通金相材料分析网友情提示：
由于该产品已进行多次功能升级和更新迭代，我们不保证LW200-4JT高清晰正置金相显微镜提供的图片和各项参数等信息均为最新，我们建议您点击此处联系我们的在线工程师为您服务，同时我们也欢迎您电话咨询：!
用途:
LW200-4JT适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体，金属陶瓷、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、芯片及新材料等方面的检验与分析。采用进口光学镜片，独有的100X干镜可媲美国外同类产品,为国内市场配置Zui高端的产品
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主要技术参数：
1．三目镜筒：倾斜45 °可旋转360 ° 瞳距55mm-75mm，视度±5° 辅助倍数1.25X
2．高眼点目镜：PLAN10X/20mm
3．平场物镜: 4X、10X、40X（S）、100X(S，oil)
4．总放大倍数：50X-1250X
5．双层载物台：尺寸160mm*140mm，
移动范围 75*50mm
6．聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25
孔镜可变光栏和视场光阑 滤色片座
7．调 焦 ：同轴粗微动调焦 升降范围25mm
微动格值0.002mm
8. 光 源：柯勒照明，正交偏振装置，滤色片（绿、黄、磨砂），反射光可调卤素灯12V50W，
透射光可调卤素灯12V20W