CDM-985研究型明暗场正置金相显微镜
CDM-965/985无限远透反射明暗场金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置大视野目镜与偏光观察装置、暗场装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.
CSB-2003B三目金相显微镜(已停产)
配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片)，视场大而清晰。粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。6V 20W卤素灯,亮度可调。三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察，可进行100%透光摄影。
ECLIPSE MA200尼康倒置金相显微镜
尼康倒置金相显微镜ECLIPSE MA200为新一代产品，是EPIPHOT TME300/200型金相显微镜的后继机种，支持明场、暗场、微分干涉、荧光、简易偏光等观察方式，具有结构紧凑、操作方便、照明均匀、 成象清晰、节能省电、坚固耐用等特点。
BM-4XDS倒置三目金相显微镜
平场目镜:放大倍数：10X:视场（mm）：Φ20,带尺目镜:放大倍数：10X:视场（mm）：Φ18:选购：格值：0 1mm,平场消色差物镜:放大倍数：10X；20X；40X；100X:数值孔径：0 25；0 4；0 6；1 25:工作距离(毫米)：7 31；0 9；0 5；0 18,总放大倍数:100X-1250X,三目筒 :三目倒置,铰链式观察筒,45°倾斜,可360°旋转,瞳距调节范围:55-75mm,微动调焦:带调节松紧装置的同轴粗微动调焦系统，微动格值为0 002mm,载物台尺寸:方形载物台 大小。
MLV-6.0颗粒度分析计数软件
本软件具备“通用视频采集软件”的所有功能，自身的核心功能如下.
MM-70大平台正置金相显微镜
70系列大平台正置金相显微镜配有可快速和慢速移动的大行程载物台，具有大视野、成像质量高、功能扩展性强(暗视场/DIC观察)等特点；尤其适合半导体掩模板、液晶基板或其它平面显示器及各种工业器件的检验；可依据客户需求升级为数码显微摄像
BX12A+VS金相图像分析系统
BX12A+VS金相图像分析系统，高清晰摄像系统,显示器同步调焦、即时采集显微图像,处理,编辑,保存、400多种常用材料数千幅金相图谱、实时测量,评级,分析,统计、符合国标及相关行业标准、自动生成图文测试报告。
MZX90超高倍无限远光学校正系统数码显微镜
MZX90超高倍数数码显微镜 采用无限远光学校正系统，可以兼容200mm的机械筒长的物镜，具有体积小，结构紧凑，安装简便，超高放大倍数（Zui大可达10000倍）等特点，是传统金相显微镜，荧光显微镜良好替代品，适用于安装空间有限，资金预算有限的场合。
CDM-33无穷远倒置金相显微镜
本仪器可广泛用于机械工业的金相组织观察分析，地矿部门对矿物的分析研究，电子等方面的观察测量，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业的首先。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好，简洁而新颖的外观更符合现代潮流，人性化的设计，简便的操作使您从繁重的工作压力中解放出来。
XJ-51DIC科研级微分干涉显微镜
XJ-51DIC科研级微分干涉金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置、微分干涉装置，可实现偏光观察、微分干涉观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。
TVM-630型大平台金相显微镜
TVM-630系列大平台金相显微镜适用于对不透明物体的显微观察。大平台金相显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时配有偏光装置。大平台金相显微镜适宜于大物体表面上的特定范围内微小目标的观察研究和分析。广泛地应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质。如集成电路、电子芯片、印刷电路板、液 晶板、线材、纤维、镀涂层以及其它非金属材料等，对一些表面状况进行研究分析等工作。
DIC3230A微分干涉金相显微镜
DIC3230微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
BD-6R系列透反射金相显微镜
BD-6R系列灵活的系统组合、卓越的成像性能、稳定的系统结构，BD-6R系列专业应用于工业检测及金相分析领域各操作机构根据人机工程学设计，Zui大限度减轻使用疲劳。模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。集成了明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。
MD58一体化数码成像装置
MD58一体化数码成像装置，提供更优良、模块化的解决方案。可以方便结合各种双目/三目镜筒的无限远光学系统的生物显微镜，方便教学和实验研究使用。通过USB数据线，连接电脑，就可以畅游显微世界。ME系列一体化成像模块，匹配MSHOT显微图像分析系统，通过对观察到的图像进行拍摄、录像，完成测量、拼接等功能。给您更容易的观察、更快乐的分享，更舒适的体验。
彩色/黑白工业摄像头
图像色彩还原度大大提高、更完美的OEM解决方案、支持多平台、多相机操作、全新的材质，全新的外观、更低的噪声水平、强大的自动曝光、成像细节更为丰富。
XJ-55C三目透反射金相显微镜
XJ-55C三目透反射金相显微镜采用优质的无限远光路系统，配置了落射与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察，尤其适合观察金相试样，电子芯片等样品。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
XJ-50A单目倒置金相显微镜
XJ-50A单目倒置金相显微镜光源系统采用柯勒照明方式，视场均匀，成像清晰，操作灵活，性价比极高。主要用于鉴和分析金属内部结构组织，或用于观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
ME31无限远透反射数码金相显微镜
ME31无限远透反射数码金相显微镜是将传统的光学显微镜与数码成像系统有机的结合在一起，不仅可以在目镜上作显微观察，还能在计算机显示屏幕上观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。主要适合电子、冶金、矿物、精密工程、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物体 ,如集成块、印刷电路板.液晶板、薄膜、纤维、纺织、镀涂层以及其它非金属材料,此数码金相显微镜也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。
TMG-300透反射式硅片检测金相显微镜
TMG-300透反射式硅片检测显微镜主要用于太阳能电池硅片的观察。它能产生高清晰的图像,立体感较强，成像较清晰和宽阔，又具有长工作距离，并具有较大的视场范围和相应的放大倍数, 配有高像素的数码摄像头,可以很清楚地看到硅片的”金字塔”的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析服务.是太阳能电池硅片的普遍专用显微镜。
LW300LJT透反射金相显微镜
LW300LJT透反射金相显微镜适用于对不透明物体或透明物体的显微观察。本仪器配置落射与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用.
LW400JT正置芯片检查显微镜
芯片检查显微镜适用于对不透明物体的进行显微观察。配置大移动范围的机械式载物台、落射照明器、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。
YMG-560中档型正置研究金相显微镜
透反射正置金相显微镜适宜于微小和不方便倒置的试样，及需要寻找特定范围目标试样的观察研究和分析。透反射金相显微镜配有落射照明器（同轴反射）和透射照明器，不仅可以鉴别和分析各种金属、合金材料、非金属物质的组织结构及集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等的一些表面状况，透反射金相显微镜还可以广泛地应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质和透明的物质。如金属、陶瓷、集成电路、电子芯片、印刷电路板、液晶板、薄膜、粉末、碳粉、线材、纤维、镀涂层以及其它非金属材料等。
XTL-18A/XTL-18BD倒置金相显微镜
XTL-18A/XTL-18BD倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与模块化的功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
MM-7正置金相显微镜
MM-7型正置金相显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明或不透明的物质，如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、 大视野目镜和内置偏光观察装置，具有外型美观，操作方便等特点.