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科研级数码三目倒置金相显微镜VM3200I

科研级数码三目倒置金相显微镜VM3200I

VM3200I科研级三目倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,仪器带有偏光装置,并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金属、岩矿内部结构组织的鉴定和分析,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。总放大倍数:50-1000X

CMY-290DM透反射数码金相显微镜

CMY-290DM透反射数码金相显微镜

透反射数码金相显微镜CMY-290DM由CMY-290和HDP5612显示屏相机组成。CMY-290配置了透射、落射照明装置,既可以观察金属材料的金相组织结构,也可以观察半透明,甚至不透明的生物标本。采用了无限远长工作距平场消色差金相物镜和大视野目镜,具有成像清晰,视野广阔,操作方便等特点。 HDP5612显示屏相机图像色彩还原接近原色,提供鼠标操作,厂家出厂配套无线鼠标,保证产品使用灵活方便; 11.6寸1080P液晶屏显示内置测量软件,可拍照录像测量预览图片,支持U盘存储,内置工业相机全部需要的功能。CMY-290DM尤其适合观察金相试样,电子芯片等样品,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

CM80BD研究级材料检测显微镜

CM80BD研究级材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

CM80BD-AF电动研究级材料检测显微镜

CM80BD-AF电动研究级材料检测显微镜

电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

CM60BD研究级材料检测显微镜

CM60BD研究级材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

CM60BD-AF电动研究级材料检测显微镜

CM60BD-AF电动研究级材料检测显微镜

电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

CM40BD研究级材料检测显微镜

CM40BD研究级材料检测显微镜

研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,或根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。

CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜

CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜

电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术,集明场,暗场及偏光等多种照明方式,任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像,根据实际应用进行功能选择,是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器,物理按钮和软件双控,进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查,线路板切片测量,晶圆检测同时该产品还适用于金相材料,高分子材料的分析检测,本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度,特别适合观察导电粒子。


CMY-910科研级金相组织分析显微镜

CMY-910科研级金相组织分析显微镜

科研级明暗场金相显微镜CMY-910采用NIS45无限远光学系统,配置了落射与透射照明系统、无限远半复消色差物镜、内置偏光观察装置除可做明暗场观察外也可实现偏光观察,能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察,尤其适合观察金相组织,半导体材料晶圆以及各种材料表面镀层厚度的检测,同时可做矿物的矿相分析。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。


MX4RT新型FPD专业检查显微镜

MX4RT新型FPD专业检查显微镜

MX4RT微分干涉显微镜采用无限远色差校正光学系统,配备透反射式照明系统可用于观察不透明产品的表面结构特征,具备明场观察,偏光观察以及DIC观察三种观察模式,可以观察FOGCCOG爆破粒子状态结构。


AWL系列显微镜晶圆检查系统

AWL系列显微镜晶圆检查系统

兼具稳定性和安全性,能够安全可靠的传送晶圆,适合于前道到后道工程的晶圆检查。拥有AWL046、AWL068两种机型,分别可适用于4/6英寸晶圆检测,6/8英寸晶圆检测,适应范围广、搭配灵活。可自由设置的检查模式,充分符合人机工程学设计,操作舒适、简便。


CMY-500BD明暗场金相显微镜(半导体工业硅片制造业样品观察)

CMY-500BD明暗场金相显微镜(半导体工业硅片制造业样品观察)

CMY-500BD研究型明暗场金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的,可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件、金属、陶瓷部件、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明形式,在反射光照明下可进行明暗场观察(选购DIC装置)、偏光观察。在透射光下作明场观察。

产品中心主要包括了金相显微镜、金相显微镜相机、金相显微镜相机接口、金相显微镜附件、金相显微镜配套设备等一系列产品。